اندازه‌گیری ویژگی‌های اپتیکی غیرخطّی لایه‌های نازک نانوساختاری مس و روی

Abstract

در این مقاله لایه­های نازک نانوساختار مس و روی به روش لایه نشانی لیزر پالسی تهیه شده­ و ضرایب جذب و شکست غیرخطی این لایه‌ها با استفاده از روش روبش- z اندازه­گیری و بررسی شده است. جزئیات پارامترهای لایه نشانی لیزر پالسی برای هر دو فلز مس و روی ارائه شده است. برای انجام آزمایش روبش- z از لیزر موج اندازۀ ضریب جذب و ضریب شکست غیرخطی لایه­های نازک نانوساختاری مس و روی به کمک نمودارهای آزمایش روبش- z محاسبه شده است. پیوسته با طول موج 532 نانومتر و توان 130 میلی‌وات استفاده کردیم. علامت و