مرور دوره 3, شماره 1 بر اساس عنوان
در حال نمایش موارد 1 - 5 از 5
- 
اندازهگیری ویژگیهای اپتیکی غیرخطّی لایههای نازک نانوساختاری مس و روی (دانشگاه الزهراAlzahra University, 2013-06-22)در این مقاله لایههای نازک نانوساختار مس و روی به روش لایه نشانی لیزر پالسی تهیه شده و ضرایب جذب و شکست غیرخطی این لایهها با استفاده از روش روبش- z اندازهگیری و بررسی شده است. جزئیات پارامترهای لایه نشانی لیزر پالسی ...
 
- 
بررسی اثر ضخامت لایههای نازک ZnO تهیه شده به روش اسپری بر روند رشد و خواص ساختاری و اپتیکی آن (دانشگاه الزهراAlzahra University, 2013-06-22)در این پژوهش، لایه های نازک اکسید روی با ضخامت های متفاوت بین 46 تا 317 نانومتر بر روی زیرلایه شیشه به روش اسپری لایه نشانی شده اند. موفولوژی و میزان زبری سطح لایه ها با استفاده از میکروسکوپ الکترونی روبشی ( SEM ) و میکروسکوپ ...
 
- 
بررسی تاثیر پارامترهای ساختاری روی ضریب تحدید نوری و ناحیه تک مدی تارهای نوری ریزساختارMOF1،MOF3،MOF7 (دانشگاه الزهراAlzahra University, 2013-06-22)در این مقاله وابستگی ناحیه تک مدی تارهای نوری ریز ساختار سیلیکا-هوا به پارامترهای ساختار از جمله قطر حفرهها d ، و فاصله تناوبی حفره ها، Λ به طور تئوری بررسی شده است. محاسبات بر اساس روش ضریب شکت مؤثر اسکالر برای سه نوع ...
 
- 
بررسی نقص در بلورهای فوتونیکی یک بعدی (دانشگاه الزهراAlzahra University, 2013-06-22)بلورهای فوتونیکی، مواد دی الکتریکِ مصنوعی با ضرریب شکسرت تناوبی هستند که ویژگی های الکترومغناطیسی جدیردی دارنردا ایربلورها نشان داده اند کره نتیهره اراکنردگی بررا در یرک ررا تاردی الکتریکِ متناوب، اارخی به شکل گرا بانرد ...
 
- 
طراحی و ساختِ سیستمِ تعیینِ مرزِ تداخلِ موادِ نامحلول (دانشگاه الزهراAlzahra University, 2013-06-22)تعیینِ مرزِ تداخل بین مّواد در صنایع پالایشگاهی، شیمیایی، گاز و پتروشیمی برای تحلیل فرآیند از اهمّیت ِبالایی برخوردار است. با توّجه به عدم ِمشاهدۀ مرز جداسازی مواد در درون مخازن، روشهای مختلفی برای تعیین این مرز و پروفایل ...
 



