دوره 3, شماره 1

 

ارسال های اخیر

  • طراحی و ساختِ سیستمِ تعیینِ مرزِ تداخلِ موادِ نامحلول 

    قلی‌پور پیوندی, رضا؛ رحمن‌زاده توت‌کله, سجاد؛ عسکری‌له‌داربنی, مجتبی؛ عظیم‌بگی راد, علی (دانشگاه الزهراAlzahra University, 2013-06-22)
    تعیینِ مرزِ تداخل بین مّواد در صنایع پالایشگاهی، شیمیایی، گاز و پتروشیمی برای تحلیل فرآیند از اهمّیت ِبالایی برخوردار است. با توّجه به عدم ِمشاهدۀ مرز جداسازی مواد در درون مخازن، روش‌های مختلفی برای تعیین این  مرز و پروفایل ...

  • مطالعۀ ویژگی‌های ساختار الکترونی ابررسانای Nb3Ga 

    صالحی, حمدا؛ طولابی‌نژاد, حسین؛ عین حصاری, محمد (دانشگاه الزهراAlzahra University, 2013-06-22)
    در این مقاله ساختار نواری، چگالی حالت‌ها و چگالی ابر الکترونی ترکیب Nb3Ga در فاز مکعبی مورد بررسی قرار گرفته است. محاسبات با استفاده از روش امواج تخت خود سازگار ( PWscf ) در چارچوب نظریۀ تابعی چگالی توسّط بستۀ نرم­افزاری ...

  • اندازه‌گیری ویژگی‌های اپتیکی غیرخطّی لایه‌های نازک نانوساختاری مس و روی 

    اطمینان, مهسا؛ حاج‌اسماعیل‌بیگی, فرشته؛ کوهیان, عطاءالله؛ گلیان, یاسمن؛ معتمدی, اسماء‌السادات (دانشگاه الزهراAlzahra University, 2013-06-22)
    در این مقاله لایه­های نازک نانوساختار مس و روی به روش لایه نشانی لیزر پالسی تهیه شده­ و ضرایب جذب و شکست غیرخطی این لایه‌ها با استفاده از روش روبش- z اندازه­گیری و بررسی شده است. جزئیات پارامترهای لایه نشانی لیزر پالسی ...

  • بررسی تاثیر پارامترهای ساختاری روی ضریب تحدید نوری و ناحیه تک مدی تارهای نوری ریزساختارMOF1،MOF3،MOF7 

    سلیمانی اقدم, خدیجه؛ شهشهانی, فاطمه؛ عصاری, مهناز (دانشگاه الزهراAlzahra University, 2013-06-22)
    در این مقاله وابستگی ناحیه تک مدی تارهای نوری ریز ساختار سیلیکا-هوا به پارامترهای ساختار از جمله قطر حفره‌ها d ، و فاصله تناوبی حفره ها، Λ به طور تئوری بررسی شده است. محاسبات بر اساس روش ضریب شکت مؤثر اسکالر برای سه نوع ...

  • بررسی نقص در بلورهای فوتونیکی یک بعدی 

    مرعش نسب, اله کرم؛ رنجبریان, سعید (دانشگاه الزهراAlzahra University, 2013-06-22)
    بلورهای فوتونیکی، مواد دی الکتریکِ مصنوعی با ضرریب شکسرت تناوبی هستند که ویژگی های الکترومغناطیسی جدیردی دارنردا ایربلورها نشان داده اند کره نتیهره اراکنردگی بررا در یرک ررا تاردی الکتریکِ متناوب، اارخی به شکل گرا بانرد ...

  • بررسی اثر ضخامت لایه‌های نازک ZnO تهیه شده به روش اسپری بر روند رشد و خواص ساختاری و اپتیکی آن 

    طاهری, امامه؛ مرتضی علی, عبدالله (دانشگاه الزهراAlzahra University, 2013-06-22)
    در این پژوهش، لایه های نازک اکسید روی با ضخامت های متفاوت بین 46 تا 317 نانومتر بر روی زیرلایه شیشه به روش اسپری لایه نشانی شده اند. موفولوژی و میزان زبری سطح لایه ها با استفاده از میکروسکوپ الکترونی روبشی ( SEM ) و میکروسکوپ ...