مدل‌سازی وارون و تفسیر دو‌بُعدی داده‌‌های نیم‌رخ‌‌زنی آرایه الکترومغناطیسی (EMAP)

Abstract

روش نیم‌رخ‌‌زنی آرایه الکترومغناطیسی (Electromagnetic Array Profiling) یاEMAP یک حالت خاص از اندازه‌گیری‌‌های میدان مگنتوتلوریک (Magnetotelluric: MT) محسوب می‌‌‌شود. در این تحقیق داده‌‌های نیم‌رخ‌‌زنی آرایه الکترومغناطیسی منطقه اکلاهومای آمریکا شامل 93 دوقطبی الکتریکی مورد بررسی قرار گرفته است. ابتدا پردازش داده‌‌ها و حذف داده‌‌های نامناسب از نظر میزان نوفه و جداسازی محدوده مناسب بسامد برای مدل‌سازی داده‌‌ها صورت گرفته است. سپس با اجرای طرح‌واره‌‌های وارون‌سازی دو‌بُعدی گرادیان مزدوج غیرخطی (NLCG) و اکام (Occam) روی این داده‌‌ها مدل‌‌های وارون برای تفسیر ساختار‌‌های زمین‌شناسی منطقه عرضه شده است. همچنین داده‌‌های چهار سونداژ مگنتوتلوریک (زمین‌مغناط‌برقی) با پنج مؤلفه مرسوم روی یک نیم‌رخ‌‌ عمود بر امتداد برداشت داده‌‌های نیم‌رخ‌‌زنی آرایه الکترومغناطیسی نیز مورد بررسی قرار گرفته است و نتایج وارون‌سازی این داده‌‌ها نیز در تفسیر ساختار‌‌های زمین‌شناسی منطقه استفاده شده است. نتایج نشان می‌‌‌دهد که پردازش داده‌‌های اولیه و کنترل پارامتر‌‌های وارون‌سازی از جمله طراحی شبکه مناسب برای مدل‌سازی، مدل شروع، ضریب لاگرانژ و مقدار نبود برازش هدف برای تولید یک مدل مناسب بسیار مؤثر هستند و لذا با کنترل این پارامتر‌‌ها توانایی طرح‌واره‌‌های گرادیان مزدوج غیرخطی و اکام در مقایسه با سایر روش‌‌های مدل‌سازی وارون مشخص شده است. همچنین توانایی داده‌‌های نیم‌رخ‌‌زنی آرایه الکترومغناطیسی در به‌دست آوردن توزیع مقاومت ویژه رسوبات زیرسطحی مشخص شده است.<br /> <br />