• ثبت نام
    • ورود به سامانه
    مشاهده مورد 
    •   صفحهٔ اصلی
    • نشریات فارسی
    • مواد و فناوری های پیشرفته
    • دوره 4, شماره 1
    • مشاهده مورد
    •   صفحهٔ اصلی
    • نشریات فارسی
    • مواد و فناوری های پیشرفته
    • دوره 4, شماره 1
    • مشاهده مورد
    JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

    بررسی اثر افزایش BaZrO3 بر ریزساختار و خواص دی‌الکتریک مایکروویو سرامیک‌های (0.9-x)Ba([Zn0.6Co0.4]1/3,Nb2/3)O3–0.1Ba(Ga1/2Ta1/2)O3–xBaZrO3 x=0-0.1

    (ندگان)پدیدآور
    Asadian, K.
    Thumbnail
    دریافت مدرک مشاهده
    FullText
    اندازه فایل: 
    804.8کیلوبایت
    نوع فايل (MIME): 
    PDF
    نوع مدرک
    Text
    زبان مدرک
    فارسی
    نمایش کامل رکورد
    چکیده
    سرامیک?های دی?الکتریک مایکروویو امروزه به عنوان اجزای غیرقابل جایگزین در دستگاه?ها و سیستم?های مورد استفاده در فرکانس?های مایکروویو برای مثال تلفن�های همراه و سیستم?های ماهواره�ای به کار می�روند. در این تحقیق اثر افزایش مقادیر متفاوت BaZrO3، بر روی ریز ساختار و خواص دی�الکتریک مایکروویو یک ترکیب با مبنای Ba(Zn1/3Nb2/3)O3(BZN) که با فرمول (0.9-x)Ba([Zn0.6Co0.4]1/3,Nb2/3)O3?0.1Ba(Ga1/2Ta1/2)O3?xBaZrO3 نشان داده می�شود و در آن �x=0-0.1می?باشد ، مورد بررسی قرار گرفته است. دانسیته در اثر افزایش مقدار BaZrO3 تا x=0.08 افزایش و سپس کاهش می�یابد. آزمایشهای پراش پرتوX نشان دهنده حضور فاز Ba(Zn1/3Nb2/3)O3 به همراه میزان بسیار ناچیزی از یک فاز ناشناخته برای سرامیک?های با مقادیر x=0,0.02,0.04 می�باشد. با این?حال مطالعات ریزساختاری توسط میکرسکوپ نوری نشان داد که فاز دوم در ریز ساختار سرامیک?های با x=0.06,0.08,0.10 نیز وجود دارد و به دلیل میزان پایین آن توسط آزمایش پراش پرتو X قابل تشخیص نیست. پیک سوپرساختار در طیف پراش پرتو X هیچ?کدام از ترکیبات مشاهده نشد. فاکتور کیفیت (Q�f) برای نمونه با x=0.08 برابر با GHz4366 بود که بسیار پایین می�باشد. برای بقیه نمونه�ها نیز فاکتور کیفیت پایین و قابل اندازه�گیری نبود. همان?طور که اشاره شد بررسی�های ریزساختاری و پراش پرتو X نشان داد که فاز دوم در تمامی نمونه�ها وجود دارد بنابراین علت اصلی میزان پایین فاکتور کیفیت که برای تمامی نمونه�ها مشاهده شده را می�توان باحضور فاز دوم در ریز ساختار توجیح کرد.
    کلید واژگان
    الکتروسرامیک
    دی‌الکتریک مایکروویو
    پروسکایت
    زینتر
    ریز ساختار
    فاکتور کیفیت

    شماره نشریه
    1
    تاریخ نشر
    2015-05-22
    1394-03-01
    ناشر
    پژوهشگاه مواد و انرژی
    Materials and Research Center (MERC)
    سازمان پدید آورنده
    semi conductor, material & energy research center

    شاپا
    2008-4269
    2008-4277
    URI
    https://dx.doi.org/10.30501/jamt.2636.70292
    http://www.jamt.ir/article_70292.html
    https://iranjournals.nlai.ir/handle/123456789/68415

    مرور

    همه جای سامانهپایگاه‌ها و مجموعه‌ها بر اساس تاریخ انتشارپدیدآورانعناوینموضوع‌‌هااین مجموعه بر اساس تاریخ انتشارپدیدآورانعناوینموضوع‌‌ها

    حساب من

    ورود به سامانهثبت نام

    آمار

    مشاهده آمار استفاده

    تازه ترین ها

    تازه ترین مدارک
    © کليه حقوق اين سامانه برای سازمان اسناد و کتابخانه ملی ایران محفوظ است
    تماس با ما | ارسال بازخورد
    قدرت یافته توسطسیناوب