• ورود به سامانه
      مشاهده مورد 
      •   صفحهٔ اصلی
      • نشریات فارسی
      • مواد و فناوری های پیشرفته
      • دوره 4, شماره 1
      • مشاهده مورد
      •   صفحهٔ اصلی
      • نشریات فارسی
      • مواد و فناوری های پیشرفته
      • دوره 4, شماره 1
      • مشاهده مورد
      JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

      بررسی اثر افزایش BaZrO3 بر ریزساختار و خواص دی‌الکتریک مایکروویو سرامیک‌های (0.9-x)Ba([Zn0.6Co0.4]1/3,Nb2/3)O3–0.1Ba(Ga1/2Ta1/2)O3–xBaZrO3 x=0-0.1

      (ندگان)پدیدآور
      Asadian, K.
      Thumbnail
      دریافت مدرک مشاهده
      FullText
      اندازه فایل: 
      804.8کیلوبایت
      نوع فايل (MIME): 
      PDF
      نوع مدرک
      Text
      زبان مدرک
      فارسی
      نمایش کامل رکورد
      چکیده
      سرامیک?های دی?الکتریک مایکروویو امروزه به عنوان اجزای غیرقابل جایگزین در دستگاه?ها و سیستم?های مورد استفاده در فرکانس?های مایکروویو برای مثال تلفن�های همراه و سیستم?های ماهواره�ای به کار می�روند. در این تحقیق اثر افزایش مقادیر متفاوت BaZrO3، بر روی ریز ساختار و خواص دی�الکتریک مایکروویو یک ترکیب با مبنای Ba(Zn1/3Nb2/3)O3(BZN) که با فرمول (0.9-x)Ba([Zn0.6Co0.4]1/3,Nb2/3)O3?0.1Ba(Ga1/2Ta1/2)O3?xBaZrO3 نشان داده می�شود و در آن �x=0-0.1می?باشد ، مورد بررسی قرار گرفته است. دانسیته در اثر افزایش مقدار BaZrO3 تا x=0.08 افزایش و سپس کاهش می�یابد. آزمایشهای پراش پرتوX نشان دهنده حضور فاز Ba(Zn1/3Nb2/3)O3 به همراه میزان بسیار ناچیزی از یک فاز ناشناخته برای سرامیک?های با مقادیر x=0,0.02,0.04 می�باشد. با این?حال مطالعات ریزساختاری توسط میکرسکوپ نوری نشان داد که فاز دوم در ریز ساختار سرامیک?های با x=0.06,0.08,0.10 نیز وجود دارد و به دلیل میزان پایین آن توسط آزمایش پراش پرتو X قابل تشخیص نیست. پیک سوپرساختار در طیف پراش پرتو X هیچ?کدام از ترکیبات مشاهده نشد. فاکتور کیفیت (Q�f) برای نمونه با x=0.08 برابر با GHz4366 بود که بسیار پایین می�باشد. برای بقیه نمونه�ها نیز فاکتور کیفیت پایین و قابل اندازه�گیری نبود. همان?طور که اشاره شد بررسی�های ریزساختاری و پراش پرتو X نشان داد که فاز دوم در تمامی نمونه�ها وجود دارد بنابراین علت اصلی میزان پایین فاکتور کیفیت که برای تمامی نمونه�ها مشاهده شده را می�توان باحضور فاز دوم در ریز ساختار توجیح کرد.
      کلید واژگان
      الکتروسرامیک
      دی‌الکتریک مایکروویو
      پروسکایت
      زینتر
      ریز ساختار
      فاکتور کیفیت

      شماره نشریه
      1
      تاریخ نشر
      2015-05-22
      1394-03-01
      ناشر
      پژوهشگاه مواد و انرژی
      Materials and Research Center (MERC)
      سازمان پدید آورنده
      semi conductor, material & energy research center

      شاپا
      2008-4269
      2008-4277
      URI
      https://dx.doi.org/10.30501/jamt.2636.70292
      http://www.jamt.ir/article_70292.html
      https://iranjournals.nlai.ir/handle/123456789/68415

      مرور

      همه جای سامانهپایگاه‌ها و مجموعه‌ها بر اساس تاریخ انتشارپدیدآورانعناوینموضوع‌‌هااین مجموعه بر اساس تاریخ انتشارپدیدآورانعناوینموضوع‌‌ها

      حساب من

      ورود به سامانهثبت نام

      تازه ترین ها

      تازه ترین مدارک
      © کليه حقوق اين سامانه برای سازمان اسناد و کتابخانه ملی ایران محفوظ است
      تماس با ما | ارسال بازخورد
      قدرت یافته توسطسیناوب