امکان‌سنجی استفاده از روش خازنی در تشخیص رسیدگی موز

Abstract

درجه‌بندی محصولات کشاورزی همواره موضوع تحقیق دانشمندان بوده است. یکی از زمینه‌های مورد مطالعه درجه‌بندی میوه براساس میزان رسیدگی آن است. روش‌های مختلفی برای تشخیص میزان رسیدگی میوه به کار گرفته شده است که بعضی از این روش‌ها مخرب و برخی دیگر غیر مخرب هستند. در این تحقیق از روش غیرمخرب خازنی برای تشخیص میزان رسیدگی میوه‌ی موز استفاده شده است. رابطه میزان رسیدگی با ثابت دی‌الکتریک میوه در بسامد یک کیلوهرتز تا 10 مگاهرتز بررسی شد. نتایج نشان داد که ثابت دی‌الکتریک میوه به شدت تحت تاثیر ابعاد و حجم میوه قرار دارد. به منظور حذف اثرات این متغیرها مدلی برای تخمین ثابت دی‌الکتریک میوه پیشنهاد شد. این مدل تابعی از ثابت دی‌الکتریک معادل، حجم میوه، طول موثر و ضخامت میوه می‌باشد. ثابت دی‌الکتریک با افزایش رسیدگی میوه کاهش پیدا می‌کند. در بسامد یک مگاهرتز این کاهش واضح‌تر است. از این بسامد برای واسنجی سامانه استفاده شد. استحکام میوه به عنوان یک شاخص کیفی اندازه‌گیری و رابطه بین استحکام و ثابت دی‌الکتریک میوه بررسی شد. نتایج پیش‌بینی مقدار رسیدگی تقریباً قابل قبول بود. ضریب همبستگی بین میزان رسیدگی واقعی میوه و مقدار پیش‌بینی شده 853/0 به دست آمد.