بررسی خواص اپتیکی فیلم نازک ZnS به روش تبخیر در خلاء (PVD)
چکیده
لایههای نازک ZnS در دو دمای مختلف زیر لایه 25oC و 200oC و در ضخامتهای مختلف 100nm-600nm بر روی زیرلایه شیشه به روش تبخیر در خلاء لایهنشانی شدند. طیف جذب و عبور برای تعیین گاف انرژی، ضریب جذب و ثابت خاموشی نمونهها تهیه گردید. از بررسی این طیفها مشخص شد که با کاهش دمای زیر لایه گاف اپتیکی نمونهها کاهش وبا کاهش ضخامت آنها گاف اپتیکی افزایش مییابد. این پدیده میتواند به اثر کوانتمی سایز ذرات نسبت داده شود.
کلید واژگان
لایههای نازک سولفید رویتبخیر گرمایی
لایه پنجره در سلول خورشیدی
شماره نشریه
4تاریخ نشر
2011-02-201389-12-01
ناشر
انجمن فیزیک ایرانسازمان پدید آورنده
دانشگاه بینالمللی امام خمینی قزویندانشگاه بینالمللی امام خمینی قزوین
شاپا
1682-69572345-3664
