اندازه‌گیری همزمان ضریب شکست و ضخامت فیزیکی دستگاه‌های چندلایه‌ای با استفاده از نتایج مقطع‌نگاری همدوسی اپتیکی در فضای فوریه

Abstract

در مقطع‌نگاری همدوسی اپتیکی در فضای فوریه1، تصویری از ضخامت اپتیکی یعنی حاصل ضرب ضریب شکست n در ضخامت فیزیکی d، مثلاً برای لایه‌های شبکیه چشم به دست می‌آید که برای تشخیص بسیاری از بیماری‌ها در بیمارستان‌های کشور استفاده می‌شود. در کار حاضر، ما یک روش جهت اندازه‌گیری همزمان و مجزای ضریب شکست و ضخامت فیزیکی دستگاه‌های چندلایه‌ای با استفاده از مقطع‌نگاری همدوسی اپتیکی در فضای فوریه بدون اطلاعات اضافی از ساختار نمونه، معرفی می‌کنیم. در این روش تنها داده‌های ورودی، طیف به دست آمده از FD-OCT و ضخامت اپتیکی لایه‌های نمونه که از انتقال فوریه‌ی طیف تداخلی به دست می‌آید، است. نتایج شبیه‌سازی بیانگر این مطلب است، که دقت کمیت‌های اندازه‌گیری شده به اختلاف ضریب شکست دو طرف سطوح نمونه بستگی دارد، چون هرچه اختلاف ضریب شکست دو لایه مجاور بیشتر باشد ضریب بازتاب اپتیکی از آن بیشتر خواهد بود. همچنین نشان خواهیم داد که دقت کمیت‌های به دست آمده تحت تأثیر دقت اندازه‌گیری ضخامت اپتیکی لایه‌ها است. بنابراین روشی جهت بهینه کردن دقت این کمیت‌ها با وجود عدم قطعیت در اندازه‌گیری ضخامت اپتیکی معرفی می‌کنیم. نتایج شبیه‌سازی نشان داده است، برای نمونه‌های زیستی شفاف که در محیط آبی قرار دارند، اگر ضریب شکست لایه‌ها کمتر از 55/1 باشند کمیت‌ها با خطای کمتر از 001/0 قابل اندازه‌گیری‌اند.