بررسی سنتز ذرات نانوساختار سیلیکات روی (Zn2SiO4) با فرآیند سل- ژل

Abstract

در این تحقیق ذرات نانوساختار سیلیکات روی با فرآیند سل- ژل از پیش­ماده­های تترا اتیل اکسی سیلان و نیترات روی سنتز شدند. با آنالیز­های DTA از ژل و XRD از ژل کلسینه شده تغییرات ساختاری در دماهای مختلف بررسی شدند. نتایج XRD تشکیل ساختارهای آمورف و تشکیل فاز کریستالی Zn₂SiO₄ را با افزایش دمای کلسیناسیون نشان دادند. با توجه به الگوی XRD از نمونه­های کلسینه شده در دماهای 800 و 900 درجه سانتیگراد و روش شرر به ترتیب اندازه دانه‌ها 13 و 27 نانومتر به دست آمد. همچنین آنالیز حرارتی مواد اولیه در دماهای کم پیک­های گرماگیر تبخیر حلال و تجزیه فازهای آلی و در دمای بالا پیک گرمازای تشکیل فاز Zn₂SiO₄ را نشان داد. علاوه بر این تصاویر SEM نشان دادند که تفاوت بین اندازه ذرات فاز آمورف و فاز کریستالی ناچیز است و محدوده آن بین 50 تا 400 نانومتر می‌باشد. همچنین آزمون اسپکتروسکوپی UV نیز برای بررسی خواص فوتوکاتالیستی نتایج قابل قبول نشان داد.