مقایسه خواص ساختاری و اپتیکی لایه‌های نازک نانویی (Sn,Ti)O2 ساخته‌شده به روش‌های باریکه‌الکترونی و سل-ژل

Abstract

<span style="font-size: small;"> </span><span style="font-size: small;">لایه‌های نازک </span><span style="font-family: Times New Roman;">TiO₂-SnO₂</span><span style="font-size: small;"> به روش‌های باریکه‌الکترون و سل-ژل(غوطه وری)</span><span style="font-size: small;">روی زیر‌لایه‌ شیشه‌ای لایه‌نشانی شدند. در روش باریکه‌الکترون، خلأ </span>^{<span style="font-size: small;">5</span>}^{<span style="font-family: Times New Roman; font-size: small;">-</span>}<span style="font-size: small;">10 تور</span><span style="font-size: small;">بود، در حالی که لایه نشانی به روش سل-ژل در اتمسفر انجام پذیرفت. سپس همه لایه‌ها، تحت عملیات حرارتی قرار گرفتند. ساختار بلوری توسط الگوی </span><span style="font-family: Times New Roman;">XRD</span> <span style="font-size: small;">در روش باریکه‌الکترونی در دمای</span><span style="font-family: Times New Roman; font-size: small;">C </span><span style="font-size: small;">˚</span><span style="font-size: small;">400 و در روش سل-ژل در دمای</span><span style="font-family: Times New Roman; font-size: small;">C </span><span style="font-size: small;">°</span><span style="font-size: small;">500 تشکیل گردید. میانگین نانو ذرات در روش باریکه ‌الکترونی 20 و در روش سل- ژل 33 نانومتر تخمین زده شد. خواص اپتیکی و مورفولوژی لایه</span><span style="font-family: Times New Roman; font-size: small;">‌</span><span style="font-size: small;">ها، توسط طیف‌سنجی </span><span style="font-family: Times New Roman;">UV/Vis/NIR</span><span style="font-size: small;"> و میکروسکوپ الکترونی روبشی </span><span style="font-family: Times New Roman;">SEM</span><span style="font-size: small;"> مورد بررسی قرار گرفت. طیف عبور و گاف‌انرژی نیز در هر دو روش محاسبه گردید.</span>