بررسی ویژگی های ساختاری و مغناطیسی نانوساختار سه لایه ای Fe/Al/Fe بر روی سیلیسیوم

Abstract

<em><em>در این پژوهش، نتیجه­ های مربوط به تغییرهای ساختاری و ویژگی­ های مغناطیسی چند لایه ­ای Fe/Al/Fe رشد یافته بر روی زیرلایه ی Si(100) مورد مطالعه قرار گرفت. نانو لایه های نازک به روش کندوپاش مگنترونی RF </em></em><em><em>لایه نشانی شدند به طوری که ضخامت هر لایه nm30 می‌باشد. نتیجه­ های تحلیل XRD نشان داد جهت ترجیهی سه لایه ای Fe/Al/Fe در راستای (200) می باشد. در ادامه به­ منظور بررسی رفتار گرمایی در دماهای بالا در خلا دستگاه HT – XRD بین دماهای 26 تا °C 800 به مدت 180 دقیقه مورد استفاده قرار گرفت. در پایان برای بررسی ویژگی ­های ریخت‌شناسی سطح و اندازه ذره­ ها از تحلیل AFM و برای بررسی ویژگی­ های مغناطیسی از تحلیل MFM و AGFM استفاده شد</em></em>