ارتعاشات آزاد نانو صفحات دولایه ی گرافن - برن نیترید با استفاده از نظریه ی آیفانتیس و روش ریتز

Abstract

نانوتشدیدگرهای آشکارساز جرم، نانوحسگرهایی‌اند که جرم‌های خارجی چسبیده به آنها بر اساس جابه‌جایی بسامد پایه‌ی حسگرها شناسایی می‌شوند. در این پژوهش سعی شده است که در کنار تعیین فاصله‌ی تعادلی و تقریب غیرخطی نیروی واندروالز میان نانوصفحات دولایه‌ی برن‌نیتریدٓـ برن‌نیترید و نانوصفحات دولایه‌ی گرافنٓـ برن‌نیترید، بسامد پایه‌ی این دو معماری نیز یافت شود و تأثیر شرایط مرزی بر آن بررسی شود. در ضمن، قدرت شناسایی جرم نانوصفحات دولایه با دو معماری متفاوت گرافنٓـ برن‌نیترید و برن‌نیتریدٓـ برن‌نیترید نیز مطالعه شده است. به‌این‌منظور، از تلفیق نظریه‌ی کلاسیک ورق با نظریه‌ی آیفانتیس بهره گرفته شده است. نتایج بیان می‌کند که معماری برن‌نیتریدٓـ برن‌نیترید جابه‌جایی بسامد پایه‌ی بیشتری نسبت به معماری گرافنٓـ برن نیترید نشان می‌دهد. درضمن با افزایش مقیاس کوچک، حساسیت نانوصفحات دولایه‌ی گرافنٓـ برن‌نیترید مستطیلی به جرم خارجی نسبت به نانوصفحات هم‌وزن مربعی با همان معماری کاهش می‌یابد.