بهینه‌سازی تحلیل شکل قلة ایکس‌پی‌اس برای مطالعة ریخت نانوسیم‌های طلای درآمیخته با پلیمر

Abstract

روشی بهینه برای تحلیل شکل قله ایکس‌پی‌اس برای شناسایی دقیق نانوساختارهای فلزی درآمیخته با یک ماتریس پلیمری ارائه می‌شود. در این‌جا، توزیع عمقی نانوسیم‌های استوانه‌ای طلای در آمیخته با پلیمر با جزییات به‌دست می‌آید، که در آن تنها از تحلیل یک طیف در گسترة وسیعی از انرژی (حداقل تا 50 الکترون‌ولت پایین‌تر از انرژی قله) و کاهش زمینة ایجاد شده در اثر برخوردهای ناکشسان الکترون‌ها با لحاظ ترابرد الکترون مربوط به هر دو مؤلفة فلزی و پلیمری استفاده شده است. این بدان معنی است که روشی بسیار ساده و غیر مخرب برای تصویربرداری سه بعدی غیر مستقیم ایکس‌پی‌اس برای شناسایی درخط نانوساختارهای سطحی دو مؤلفه‌ای شامل فلز و پلیمر ایجاد شده است که این می‌تواند روشی بسیار مناسب برای استفاده در خطوط کنترل کیفیت تولید چنین نانوساختارهای سطحی باشد.