برآورد E- بیز و بیز سلسله مراتبی (R=P(XY در توزیع وایبول

Abstract

span dir=RTLاگر در مدل تنش-مقاومت، متغیرهای تصادفی X/spanimg alt= height=16 src=file:///C:/Users/User/AppData/Local/Temp/msohtmlclip1/01/clip_image002.gif width=9 span dir=RTLnbsp;و Y/spanimg alt= height=16 src=file:///C:/Users/User/AppData/Local/Temp/msohtmlclip1/01/clip_image004.gif width=8 span dir=RTLnbsp;به ترتیب بیان‌کننده مقاومت و تنش باشند، پارامتر قابلیت اعتماد آن یعنی /spanimg alt= height=16 src=file:///C:/Users/User/AppData/Local/Temp/msohtmlclip1/01/clip_image006.gif width=81 (R=P(XYspan dir=RTL، به روش‌های ماکسیمم درستنمایی و بیز و همچنین فواصل اطمینان مختلف آن برای بسیاری از توزیع‌ها برآورد شد. اما در این مقاله وقتی که متغیرهای تصادفی X/spanimg alt= height=16 src=file:///C:/Users/User/AppData/Local/Temp/msohtmlclip1/01/clip_image002.gif width=9 span dir=RTLnbsp;و Y/spanimg alt= height=16 src=file:///C:/Users/User/AppData/Local/Temp/msohtmlclip1/01/clip_image004.gif width=8 span dir=RTLnbsp;مستقل و دارای توزیع‌های وایبول با پارامترهای شکل یکسان و اسکالر متفاوت می‌باشند، برآورد E/spanimg alt= height=16 src=file:///C:/Users/User/AppData/Local/Temp/msohtmlclip1/01/clip_image008.gif width=9 span dir=RTL- بیز و برآورد بیز سلسله مراتبی R/spanimg alt= height=16 src=file:///C:/Users/User/AppData/Local/Temp/msohtmlclip1/01/clip_image010.gif width=9 span dir=RTL، تحت توابع زیان مربع خطا و آنتروپی به دست آورده می‌شود. سپس با استفاده از روش شبیه‌سازی مونت‌کارلو، این برآوردهای جدید با هم و با برآورد بیز R/spanimg alt= height=16 src=file:///C:/Users/User/AppData/Local/Temp/msohtmlclip1/01/clip_image010.gif width=9 span dir=RTLnbsp;مقایسه می‌شوند.nbsp;/span