ارزیابی ویژگی‌های کیفیت دسته پرتو X دستگاه رادیوتراپی سطحی با روش تجربی و شبیه سازی

Abstract

زمینه و هدف: یکی از روش‌‌های متداول در رادیوتراپی برای درمان‌‌های سطحی به ویژه در درمان ضایعات سطحی پوستی استفاده از دستگاه ارتوولتا‍ژ پرتو X (تا kVp 300) می باشد. کیفیت پرتو X خروجی مهم‌‌ترین شاخص برای درمان در این نوع دستگاه‌‌ها می باشد که معمولاً به صورت ضخامت لایه نیم جذب‌‌(HVL) وانر‍ژی مؤثر فوتون نشان می دهندکه در این تحقیق علاوه بر دو شاخص مذکور ضریب همگنی نیز به عنوان شاخصی دیگر مورد بررسی قرار گرفت.

روش­ کار: در این مطالعه لایه نیم جذب (HVL) و ضریب همگنی دستگاه پرتو X سطحی در ولتاژ kV180 به روش تجربی تعیین گردید و با شبیه سازی به روش مونت کارلوبا کد EGSnrc مقایسه و نتایج گزارش گردید. برای این کار منحنی جذب با استفاده از اندازه گیری اکسپوژرعبوری از لایه های تضعیف کننده موجود در کلینیک رسم گردید و با درون یابی نقاط منحنی مناسب، لایه نیم جذب (HVL) و ضریب همگنی به‌‌دست آمد. همچنین دربسته EGSnrc، از کد BEAMnrc برای شبیه سازی سر دستگاه (Head ) تا اپلیکاتور و از BEAMDP برای محاسبه ضریب همگنی به طور سیستماتیک و ترسیم طیف خروجی (با استفاده ازداده های فضایی فازی) و از کد DOSXYZnrc برای ترسیم منحنی درصد دزعمقی در فانتوم آب استفاده گردید.

یافته­ ها: نتایج نشان می دهد میانگین درصد اختلاف HVL و ضریب همگنی به‌‌دست آمده از 2 روش شبیه سازی و تجربی به 96/4 % و 01/3 % می باشد.

نتیجه ­گیری: باتوجه به مطالعات قبلی که میزان اختلاف بین HVL اندازه گیری شده با روش تجربی وشبیه سازی 2% تا بالای 10% گزارش گردید، میانگین اختلاف 96/4 % به‌‌دست آمد. که این میزان اختلاف، منطقی است. ضریب همگنی به‌‌دست آمده بیشتراز گزارش های قبلی محاسبه گردید که به علت تفاوت در کد استفاده شده قابل توجیه می باشد. لذا، با توجه به محدودیت های موجود درکلینیک،‌ روش حاضر به‌‌دلیل سادگی چیدمان و مشابهت با شرایط کلینیکی به نظر می رسد که از کارآیی مناسبی برخوردار باشد.